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  • AP-CJ微電腦溫沖試驗(yàn)箱
    AP-CJ微電腦溫沖試驗(yàn)箱

    微電腦溫沖試驗(yàn)箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動(dòng)化零部件、汽車配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、國防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)各種產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它,目前此設(shè)備是工業(yè)產(chǎn)業(yè)共認(rèn)的理想測試工具。

    更新時(shí)間:2024-11-08型號(hào):AP-CJ訪問量:2416
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  • AP-CJ模擬環(huán)境溫度沖擊測試設(shè)備
    AP-CJ模擬環(huán)境溫度沖擊測試設(shè)備

    模擬環(huán)境溫度沖擊測試設(shè)備可在預(yù)約開機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)為蓄熱槽、測試槽、蓄冷槽三部分,被測試物品靜止置放于測試室內(nèi),可選擇2區(qū)或3區(qū)之測試功能??瑟?dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。

    更新時(shí)間:2024-11-08型號(hào):AP-CJ訪問量:2220
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  • AP-CJ冷熱沖擊箱試驗(yàn)設(shè)備
    AP-CJ冷熱沖擊箱試驗(yàn)設(shè)備

    冷熱沖擊箱是一種用于測試產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性的試驗(yàn)設(shè)備。該設(shè)備可以模擬高溫、低溫和急速溫度變化的條件,從而評估產(chǎn)品在這些環(huán)境下的耐受能力。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):AP-CJ訪問量:2436
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  • AP-CJ溫沖試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)
    AP-CJ溫沖試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

    溫沖試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱朔抡娌煌娮訕?gòu)件,在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境,縮短測試時(shí)間,降低測試費(fèi)用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):AP-CJ訪問量:2537
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  • AP-CJ元器件熱沖擊
    AP-CJ元器件熱沖擊

    元器件熱沖擊用于測試電子產(chǎn)品,電子,電器,電子產(chǎn)品,電子元器件,數(shù)碼產(chǎn)品,手機(jī),電腦,太陽能組件等產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在Z短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):AP-CJ訪問量:2207
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